Ana gezinime atla
Aramaya atla
Ana içeriğe atla
Bahçeşehir Üniversitesi Yurt içi
English
Türkçe
İçeriği şurada ara Bahçeşehir Üniversitesi
Yurt içi
Profiller
Araştırma Birimleri
Araştırma Çıktısı
Basın / Medya
Uzmanla iletişime geçin
Scopus Profilini Görüntüle
Doğan Akcan
Asst. Prof.
Matematik
E-posta
dogan.akcan
bau.edu
tr
h-index
347
Alıntılar
13
h-indeks
Scopus alıntıları ve Pure'de kayıtlı yayın sayısına göre hesaplandı
2013
2024
Yıla göre araştırma sonucu
Genel bakış
Parmak izi
Ağ
Araştırma Çıktısı
(17)
Benzer Profiller
(4)
Parmak izi
Doğan Akcan‘in aktif olduğu araştırma başlıklarına git. Bu konu etiketleri bu kişinin eserlerindendir. Birlikte benzersiz bir parmak izi oluştururlar.
Sıralama ölçütü
Ağırlık
Alfabetik sıralama
Keyphrases
Al Doping
10%
Al2O3 Layer
10%
Alkoxide
11%
Atomic Layer Deposited
10%
Biological Properties
10%
Bruker
9%
Bulk Samples
10%
Cadmium Doping
10%
Characterization Studies
10%
Co-doped ZnO Thin Films
10%
Coated Substrate
14%
CoCu
10%
CRISTAL
19%
Cu-doped ZnO
10%
Diffraction
24%
Diffraction Analysis
10%
Doping Ratio
13%
Double-sided
10%
ESR Study
21%
Experimental Principle
10%
Extinction Coefficient
10%
Fracture Toughness Value
10%
La-doped ZnO
10%
Mg-based
14%
Mg-doped
16%
Microstructure
9%
Nano-ZnO
10%
Nanocrystals
10%
Nanoparticles
38%
Optical Studies
10%
Particle Size
11%
Photocatalytic Properties
10%
Refractive Index
21%
Room Temperature
9%
Scanning Electron Microscopy (SEM-EDS)
23%
Sol-gel Method
21%
Spectrometer
9%
Structural Properties
45%
Structure Properties
25%
Synthesis Study
21%
Synthesis, Characterization
21%
Vickers Hardness
10%
X-band
9%
X-ray
35%
Zinc Oxide
10%
Zinc Oxide Thin Films
10%
Zn-Al
11%
ZnAlO
10%
ZnCoO
10%
ZnMgO Nanoparticles
10%
Material Science
Aluminum Oxide
8%
Annealing Temperature
6%
Cobalt
10%
Crystal Structure
19%
Doping (Additives)
8%
Film
10%
Fracture Toughness
10%
Glass Substrate
6%
Grain Size
21%
Lattice Constant
15%
Microhardness
23%
Nanocrystals
10%
Nanoparticle
100%
Photoluminescence
8%
Plastic Deformation
6%
Refractive Index
10%
Scanning Electron Microscopy
26%
Sol-Gel
26%
Structural Property
30%
Thin Films
40%
Transparent Conducting Oxide
5%
X Ray Diffraction Analysis
7%
X-Ray Diffraction
35%
Yttrium
10%
Zinc Oxide
13%
ZnO
60%
